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日本日置LCR测试仪HIOKI 3535的性能： 高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带 高速LCR测试（6ms/采样） 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的负载补偿功能 日本日置LCR测试仪HIOKI 3535的 基本参数 测量参数 |Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，，Ls，Lp，Cs，...

日本日置LCR测试仪HIOKI 3532-50的性能： 搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，...

日本日置LCR测试仪 3522-50的性能： LCR测试仪 3522-50 为低价及更好的功用和性能 ,LCR测试仪 3522-50测试频率为DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率,LCR测试仪 3522-50标准配置不提供测试冶具，订货时请...

日本日置电容测试仪HIOKI 3506的性能： 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，HIOKI 3505电容表的测试频率为 : 1kHz, 100kHz, 1MHz, HIOKI 3506电容表的测试频率为 : 1kHz, 1MHz 反复测量精度更高，最适合生产线 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响 测量导线的过长引起的阻抗变化，...

日本日置电容测试仪HIOKI 3505的性能： 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，HIOKI 3505电容表的测试频率为 : 1kHz, 100kHz, 1MHz, HIOKI 3506电容表的测试频率为 : 1kHz, 1MHz 反复测量精度更高，最适合生产线 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响 测量导线的过长引起的阻抗变化，...

日本日置电容测试仪HIOKI 3504-40的性能： 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等， 4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O）...

日本日置电容测试仪HIOKI 3504-50的性能： 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工...

日本日置电容测试仪HIOKI 3504-60的性能： 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工...

日本日置电容测试仪/C测试仪HIOKI 3504/HIOKI 3504-10的性能： 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 1...

日本日置电容测试仪HIOKI 3501的性能： 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 F的范围 单按键操作 与一般测量功能不同，它还能用DC测量电容无偏差测量极性电容 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电...